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USB PDに対応しているDUTの認証取得を目的としている場合、USB PD Revision 3.1 / Version 1.3以降に対応する必要があります。 先ず、VIF作成時に参照するVendor Info File SpecificationのRevision historyを見ると以下の様に書いております。 ※Vendor Info Fi

アリオンでは主に海外メーカー様のFeliCaリーダライタの検定試験やその事前確認として測定代行試験を行っています。 今回は、2023年10月からリーダライタ検定に使用する検定用互換性試験用カードと携帯電話に変更がありますのでお知らせします。 ■ 検定基準カード 2023年9月12日現在FeliCaリーダライタの試験に使用するカードは以下の通りです

■はじめに 2020年8月、当サイト内にてQuadraMAXを使用したSource Power Testに関する記事を掲載しました。 (件名: USB Type-C/PD Source Power試験のご紹介) 今回、その試験項目の一つであるSPT.1 Load Testにて判定基準の変更がありましたのでご紹介します。 ■判定基準の変更点 SPT.

Recently, one of our newest equipment, M41h, arrived at our HDMI laboratory. M41h, also known as Quantum Data M41h, is a video analyzer and a video generator that can be used

始めに 2018年6月19日、USB-IFがDrop/Droop試験の測定手順を更新しました(Version 1.4.1) 。新手順では試験治具が変更されており、この変更におけるDroop測定結果への影響についてご紹介します。   新・旧治具の変更点 1). リファレンス信号によるトリガー条件を変更 旧治具: リファレンス信号がL→Hのタ

弊社の認証試験、SI評価サービス、およびテストツール/治具がSTマイクロエレクトロニクス社のWebサイトに掲載されました。弊社のサービスと製品がパートナー会社からも認められ、一層の信頼感を得ることができました。今後もお客様に価値あるサービスを提供できるよう、努力してまいります。 様々な規格・試験規格に基づくテストツール・治具の開発と販売 アリオンは

【概要】 2023年2月6日から2月10日にかけて「第129回 USBワークショップ」が開催されました。その中のいくつかの更新事項がございましたのでご紹介します。 【USBワークショップとは】 USB-IFは年に4～5回の頻度でワークショップと呼ばれるイベントを開催しています。世界中からベンダーが集　まり、ワークショップの場で無料で認証試験を受ける

読者の皆様の中で基板の中間点、表面実装部品端子の波形や電圧を観測したいと思ったことがあるでしょうか。製品評価に於いて、外部入出力を観測して特に問題が無ければ良いのですが、何等かの問題が見つかった場合、基板の中間点の波形や電圧を調べてデバッグを進めることが多いと思います。今回は、Sensepeek社のPCBite探針プローブについて調査してみます。

USB 2.0 Embedded Host IOP試験にて7.3.13項、7.3.14項、7.3.15項、7.3.16項、7.3.17項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験にてDUTがStandbyモードの機能を搭載する場合に実施する7.3.13項、7.3.14項、7.3.15項、7.3.16項、7.3.17項について解

はじめに 以前の記事でUSB Type-C/PD Source製品のDUT(Device Under Test)に対するType-C/PD Source Power試験を紹介しました。今回はType-C/PD Source Power試験のProgrammable Power Supply (PPS)のSource Deviceの認証試験について紹

FeliCaリーダライタ検定試験では、公開されている規定書に従ってテストをしますが、その内容は現在の状況に合わせて更新が行われます。2022年7月に互換性試験用カードが、同8月に検定規定書が更新されています。 今回は更新された内容についてご紹介します。 ■ リーダライタRF性能試験規定書 Ver.1.52 2022年8月1日より リーダライタRF性

USB 2.0 Embedded Host IOP試験の7.3.10項、7.3.11項、7.3.12項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験の7.3.10項、7.3.11項、7.3.12項について解説いたします。 7.3.10 A-UUT Hub Concurrent and Independent test 目的 ハブの

USB 2.0 Embedded Host IOP試験の7.3.7項、7.3.8項、7.3.9項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験の7.3.7項、7.3.8項、7.3.9項について解説いたします。 7.3.7 A-UUT Hub Error message test 目的 UUTがハブエラーメッセージを表示するかテスト

USB 2.0 Embedded Host IOP試験の7.3.4項、7.3.5項、7.3.6項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験の7.3.4項, 7.3.5項, 7.3.6項について解説いたします。 7.3.4 A-UUT Legacy Speed test 目的 Full-SpeedまたはLow-SpeedでのUU

【概要説明】 Type-C Functional Test (LeCroy Solution)が開始されない事象と、その原因についての記事です。 LeCroy M310P(USB Compliance Suite Version 6.29 Biuld 1053)を使用しType-C Functional Testをスタートさせると、最初に実行される