SI Test

始めに 2018年6月19日、USB-IFがDrop/Droop試験の測定手順を更新しました(Version 1.4.1) 。新手順では試験治具が変更されており、この変更におけるDroop測定結果への影響についてご紹介します。   新・旧治具の変更点 1). リファレンス信号によるトリガー条件を変更 旧治具: リファレンス信号がL→Hのタ

【概要】 2023年2月6日から2月10日にかけて「第129回 USBワークショップ」が開催されました。その中のいくつかの更新事項がございましたのでご紹介します。 【USBワークショップとは】 USB-IFは年に4～5回の頻度でワークショップと呼ばれるイベントを開催しています。世界中からベンダーが集　まり、ワークショップの場で無料で認証試験を受ける

読者の皆様の中で基板の中間点、表面実装部品端子の波形や電圧を観測したいと思ったことがあるでしょうか。製品評価に於いて、外部入出力を観測して特に問題が無ければ良いのですが、何等かの問題が見つかった場合、基板の中間点の波形や電圧を調べてデバッグを進めることが多いと思います。今回は、Sensepeek社のPCBite探針プローブについて調査してみます。

近年、コロナウィルス感染対策の影響でテレワーク、在宅勤務を余儀なくされているエンジニアも多いのではと思います。特に在宅勤務の場合は、測定機材が手元に無いので評価データの分析がやりにくく、更に評価中の製品を社外に持ち出すことも難しいでしょう。そこで今回は、デモを含めてTektronix TekScopeを紹介します。 TekScopeとは TekSc

〇はじめに 2021年4月より、USB認証試験にUSB RFI System-Level Testが追加されました。このテストについて、簡単にですが解説します。   〇対象となるテスト対象機器（以下DUT） 以下の内容に当てはまり、かつType-Cコネクタを搭載し5Gbps以上に対応したDUTが対象となります。 USB 3.2 Hosts

USB試験には電気特性に関する試験がありますが、テスト対象機器(以下DUT)を測定するためにはオシロスコープやマルチメーターだけではなく、殆どのケースでFixture(治具)を使います。当社でも様々なFixtureを保有しており、試験毎にそれぞれのFixtureを使いわけておりますが、今回は電気試験の各項目と使用されるFixtureを紹介します。

アリオンとソニー共同で開催するHDMI2.1ウェビナにつきましてはアリオンのHPにて案内がございますが、下記にも同じ案内情報が記載されておりますので、ご参考していただければと存じます。 ======================= HDMI 2.1がリリースされてから、2年以上経過し、それぞれの機能についての 認証試験の内容もほぼ固まってきました

・コンプライアンスモードとは USB 3.2のトランスミッタ電気試験ではコンプライアンスモードと呼ばれるモード(信号パターン)に対応していることが要求されます。各試験項目毎に測定で使用するモードが定義されておりそのモードに設定できない場合は測定不可となってしまい実質的には不合格と同等の扱いになります。 ほとんどのDUTは問題なくコンプライアンスモー

さまざまなシリアルインターフェースの伝送速度は、高速化が進み信号を受信する際、イコライザーを使用する機会が多くなっています。イコライザーは、伝送線路の損失*1で減衰した受信信号の高域を強調し受信側で最適な波形を得る技術でUSB、SATA、PCI-Express等でも使用されています。今回は、前回検証したプリエンファシスに続きデモ版のSpice Ve

1. はじめに 測定に使用するSMAケーブルなどの同軸ケーブルの劣化について、気にかけたことがある方は多いかと思います。今回、下のような同じ型番のSMAケーブルを使って、未使用の場合と5年ほど使用した場合で、S21 挿入損失の測定とEYEのシミュレーションを行い比較してみました。 2. 測定結果 2.1 挿入損失 まずは、未使用ケーブルの結果です。