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USB PD対応のDUTが認証取得する場合のUSB PD Revision 3.1 / Version 1.3以降への準拠の必要性について

USB PDに対応しているDUTの認証取得を目的としている場合、USB PD Revision 3.1 / Version 1.3以降に対応する必要があります。 先ず、VIF作成時に参照するVendor Info File SpecificationのRevision historyを見ると以下の様に書いております。 ※Vendor Info Fi

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FeliCaリーダライタ検定試験~検定用互換性試験用カード&携帯電話機種変更!!~

アリオンでは主に海外メーカー様のFeliCaリーダライタの検定試験やその事前確認として測定代行試験を行っています。 今回は、2023年10月からリーダライタ検定に使用する検定用互換性試験用カードと携帯電話に変更がありますのでお知らせします。 ■ 検定基準カード 2023年9月12日現在FeliCaリーダライタの試験に使用するカードは以下の通りです

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USB Droop試験の治具変更についてのご紹介

始めに 2018年6月19日、USB-IFがDrop/Droop試験の測定手順を更新しました(Version 1.4.1) 。新手順では試験治具が変更されており、この変更におけるDroop測定結果への影響についてご紹介します。   新・旧治具の変更点 1). リファレンス信号によるトリガー条件を変更 旧治具: リファレンス信号がL→Hのタ

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アリオンとSTマイクロエレクトロニクスのタッグ:最先端のテストツールと認証試験サービスのご紹介

弊社の認証試験、SI評価サービス、およびテストツール/治具がSTマイクロエレクトロニクス社のWebサイトに掲載されました。弊社のサービスと製品がパートナー会社からも認められ、一層の信頼感を得ることができました。今後もお客様に価値あるサービスを提供できるよう、努力してまいります。 様々な規格・試験規格に基づくテストツール・治具の開発と販売 アリオンは

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第129回 USB Workshopトピックのご紹介

【概要】 2023年2月6日から2月10日にかけて「第129回 USBワークショップ」が開催されました。その中のいくつかの更新事項がございましたのでご紹介します。 【USBワークショップとは】 USB-IFは年に4~5回の頻度でワークショップと呼ばれるイベントを開催しています。世界中からベンダーが集 まり、ワークショップの場で無料で認証試験を受ける

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Sensepeek社PCBite探針プローブSP10、SP200デモ

読者の皆様の中で基板の中間点、表面実装部品端子の波形や電圧を観測したいと思ったことがあるでしょうか。製品評価に於いて、外部入出力を観測して特に問題が無ければ良いのですが、何等かの問題が見つかった場合、基板の中間点の波形や電圧を調べてデバッグを進めることが多いと思います。今回は、Sensepeek社のPCBite探針プローブについて調査してみます。

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