USB PDに対応しているDUTの認証取得を目的としている場合、USB PD Revision 3.1 / Version 1.3以降に対応する必要があります。 先ず、VIF作成時に参照するVendor Info File SpecificationのRevision histo…

アリオンでは主に海外メーカー様のFeliCaリーダライタの検定試験やその事前確認として測定代行試験を行っています。 今回は、2023年10月からリーダライタ検定に使用する検定用互換性試験用カードと携帯電話に変更がありますのでお知らせします。 ■ 検定基準カード 2023年9月12…

■はじめに 2020年8月、当サイト内にてQuadraMAXを使用したSource Power Testに関する記事を掲載しました。 (件名: USB Type-C/PD Source Power試験のご紹介) 今回、その試験項目の一つであるSPT.1 Load Testにて判定…

Recently, one of our newest equipment, M41h, arrived at our HDMI laboratory. M41h, also known as Quantum Data M41h, is a video analyzer and a video generator that can be used in a wide range …

始めに 2018年6月19日、USB-IFがDrop/Droop試験の測定手順を更新しました(Version 1.4.1) 。新手順では試験治具が変更されており、この変更におけるDroop測定結果への影響についてご紹介します。   新・旧治具の変更点 1). リファレン…

弊社の認証試験、SI評価サービス、およびテストツール/治具がSTマイクロエレクトロニクス社のWebサイトに掲載されました。弊社のサービスと製品がパートナー会社からも認められ、一層の信頼感を得ることができました。今後もお客様に価値あるサービスを提供できるよう、努力してまいります。…

【概要】 2023年2月6日から2月10日にかけて「第129回 USBワークショップ」が開催されました。その中のいくつかの更新事項がございましたのでご紹介します。 【USBワークショップとは】 USB-IFは年に4～5回の頻度でワークショップと呼ばれるイベントを開催しています。世…

読者の皆様の中で基板の中間点、表面実装部品端子の波形や電圧を観測したいと思ったことがあるでしょうか。製品評価に於いて、外部入出力を観測して特に問題が無ければ良いのですが、何等かの問題が見つかった場合、基板の中間点の波形や電圧を調べてデバッグを進めることが多いと思います。今回は、S…

USB 2.0 Embedded Host IOP試験にて7.3.13項、7.3.14項、7.3.15項、7.3.16項、7.3.17項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験にてDUTがStandbyモードの機能を搭載する場合に実施する7.3.13項、7…

はじめに 以前の記事でUSB Type-C/PD Source製品のDUT(Device Under Test)に対するType-C/PD Source Power試験を紹介しました。今回はType-C/PD Source Power試験のProgrammable Power S…