Friday , September 6 2019
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USB SuperSpeed Compound Device測定の注意点

USBデバイスの中には、デバイス内部にUSBハブを内蔵したデバイスがあります。このようなデバイスをCompound device(コンパウンドデバイス)と呼びます。 1. USB SuperSpeed Compound Deviceの種類 Compound deviceには2種類あります。 以下の図でUFPはUpstream Facing Port

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USB 3.2 Gen1機器におけるEMI試験のご紹介

USB-Versus-Wireless-Signals-EMI-Test

USB3.2 Gen1の動作時に高周波による2.4GHz帯への干渉(EMI: Electro-Magnetic Interference) があり、周囲のワイヤレスデバイスの動作不良を起こす恐れがあります。そのため、USB認証試験ではEMI試験を行い、USB3.2 Gen1機器のEMI対策を確認します。ただし、現状ではEMI試験の結果はinform

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USB機器におけるリタイマの導入とテストスペック

USBのデータ伝送速度が向上するにつれて、信号の波形品質を確保することが難しくなってきています。 特にUSB機器の内部のUSBコントローラからUSBコネクタまでの距離が長い場合、USBコネクタ端での波形品質が悪くなってしまい正常にUSB通信ができなくなることがあります。 このような場合に波形品質を確保するためにUSBコネクタの近くにリタイマと呼ばれ

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USB3.2 Gen1(5Gbps)ジッタ耐性テスト:測定不可事例と分析

SuperSpeed USB製品は基板やケーブルなどにおける高周波信号に対する損失やジッタの影響を大きく受けます。そのため物理層がUSB規格を満たしているかどうかの確認が大変重要になります。その中のひとつとして、レシーバが仕様で規定されたジッタを持った信号を正しく受信できるかのジッタ耐性テストを行います。ジッタ耐性テストでは、Loopback mo

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USB接続問題の様々な原因とその問題の調べ方

USB SuperSpeed Cable over the lawn

概要 USBデバイスをパソコンに接続すると、1. Unknown Deviceになったり、2. xHCIホストコントローラに接続したSuperSpeedデバイスがHigh-Speedデバイスとして認識されてしまう、といった問題が発生することがあります。一体何が起きていて問題になっているのでしょうか? 今回は、USBの相性問題と呼ばれる現象について考

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