Tag Archives: SI

伝送線路の損失が発生する仕組み、損失による発熱は電子レンジに応用されている?

概要 高速信号を伝送する際、基板上に伝送線路を設けますが高速信号を扱う技術者は、高速になればなる程、信号伝送が難しくなることを経験的に知っています。一体なにが難しいのでしょうか? 今回は、伝送線路の損失について調査してみます。 伝送線路損失の種類 伝送線路損失として考えられる種類は、下記項目が挙げられます。他にも損失と考えられる項目が存在しますが今

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リターンロスはなぜ発生するのか、インピーダンスミスマッチ境界で何が起こっているのか図解入りで分かり易く解説

概要 高周波信号を扱うエンジニアは、リターンロス、反射という用語に日々接していると思います。反射とは送信した信号が受信方向に進まず逆戻りする現象と、なんとなく抽象的に理解している方も多いと思います。今回は、この反射について調査してみます。 反射の定義 高周波信号を扱う場合は、反射を小さくするため全てのインピーダンスを合わせて設計します。例えば、送信

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LCRメーターで端子容量を測定したら予想値20~30pFに対し2nFを示したがその結果は本当に正しいのか

概要 HDMI認証試験では、DDC ClockピンとDataピン及びCECピンの容量を測定し、規格内に収まっているか確認する項目があります。試験はLCRメーターを用いて測定しますが、通常pFオーダーに収まります。しかし、2nF等の想定外に過大な容量値が算出される事があります。そこで、何が起こっているか検証してみました。 LCRメーターの動作原理 L

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