Tag Archives: USB認証試験

USB Type-C Interoperability Test (2021年2Q 改訂版)

■はじめに USB試験では通常のInteroperability(以下IOP) Testとは別にType-C 機器に特化したType-C IOP Testがあります。2021年2月25日リリース「Power Sinking Device (PSD) 認証試験のご紹介」でも、このType-C IOP Testについて紹介しておりますが、そこで記載され

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USB電気試験で使用するFixture

USB試験には電気特性に関する試験がありますが、テスト対象機器(以下DUT)を測定するためにはオシロスコープやマルチメーターだけではなく、殆どのケースでFixture(治具)を使います。当社でも様々なFixtureを保有しており、試験毎にそれぞれのFixtureを使いわけておりますが、今回は電気試験の各項目と使用されるFixtureを紹介します。

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2020年のPCインターフェースとUSBの最新動向

MacBook with USB Type-C Charger and Connector

1996年にUSB 1.0が登場してから約20年がたった。USB規格は最初の10年は主にPCにおけるデータ通信の規格として普及し、次の10年は主にスマートフォンへの充電の規格として普及したと言ってよい。2020年以降もUSBはデータと充電のインターフェースとして普及が続くと考えられる。 2020年のUSB規格におけるキーワードはUSB Type-C

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USB SuperSpeed Low Power Swingの試験追加について

2019年9月24日にUSB-IFからUSB-IF Compliance Updatesが配信されました。その中で2020年5月からSuperSpeed電気試験の手順が追加されるという更新がありましたのでここで簡単に概要をご紹介いたします。該当のCompliance Updatesは以下になります。 ・LFPS Tx Low Power/Rx De

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USB SuperSpeed Compound Device測定の注意点

USBデバイスの中には、デバイス内部にUSBハブを内蔵したデバイスがあります。このようなデバイスをCompound device(コンパウンドデバイス)と呼びます。 1. USB SuperSpeed Compound Deviceの種類 Compound deviceには2種類あります。 以下の図でUFPはUpstream Facing Port

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