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読者の皆様の中で基板の中間点、表面実装部品端子の波形や電圧を観測したいと思ったことがあるでしょうか。製品評価に於いて、外部入出力を観測して特に問題が無ければ良いのですが、何等かの問題が見つかった場合、基板の中間点の波形や電圧を調べてデバッグを進めることが多いと思います。今回は、Sensepeek社のPCBite探針プローブについて調査してみます。

USB 2.0 Embedded Host IOP試験にて7.3.13項、7.3.14項、7.3.15項、7.3.16項、7.3.17項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験にてDUTがStandbyモードの機能を搭載する場合に実施する7.3.13項、7.3.14項、7.3.15項、7.3.16項、7.3.17項について解

はじめに 以前の記事でUSB Type-C/PD Source製品のDUT(Device Under Test)に対するType-C/PD Source Power試験を紹介しました。今回はType-C/PD Source Power試験のProgrammable Power Supply (PPS)のSource Deviceの認証試験について紹

FeliCaリーダライタ検定試験では、公開されている規定書に従ってテストをしますが、その内容は現在の状況に合わせて更新が行われます。2022年7月に互換性試験用カードが、同8月に検定規定書が更新されています。 今回は更新された内容についてご紹介します。 ■ リーダライタRF性能試験規定書 Ver.1.52 2022年8月1日より リーダライタRF性

USB 2.0 Embedded Host IOP試験の7.3.10項、7.3.11項、7.3.12項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験の7.3.10項、7.3.11項、7.3.12項について解説いたします。 7.3.10 A-UUT Hub Concurrent and Independent test 目的 ハブの

USB 2.0 Embedded Host IOP試験の7.3.7項、7.3.8項、7.3.9項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験の7.3.7項、7.3.8項、7.3.9項について解説いたします。 7.3.7 A-UUT Hub Error message test 目的 UUTがハブエラーメッセージを表示するかテスト

USB 2.0 Embedded Host IOP試験の7.3.4項、7.3.5項、7.3.6項について 始めに 今回は、Embedded Host IOP試験の7.3.4項, 7.3.5項, 7.3.6項について解説いたします。 7.3.4 A-UUT Legacy Speed test 目的 Full-SpeedまたはLow-SpeedでのUU

前編では、Excel VBAからMSO4054Bに*IDN?コマンドを送信し、測定器のIDが返信される所まで確認しました。後編ではMSO4054Bから波形を取得しグラフ描画してみます。前編を読まれていない方は、下記コンテンツも併せてご参照下さい。 IVI、VXI、VISA、SCPI、Excel VBAからTektronix MSO4054Bオシロス

DC電源、マルチメーター、オシロスコープ、パタンジェネレーター等、様々な測定器を使用し日々評価を実施している技術者も多いと思います。使用機材の設定手順が多かったり、測定器を同期させて繰り返し使用したい場合、PCから各測定器を制御すると自動化、効率化が可能です。各測定器メーカーから発売されている認証試験ツールや自動測定パッケージは、相互接続された測定

USB Type-Cを採用する製品が増加し、それに伴い試験の案件も増えています。 USB Type-Cに関する試験にType-C Functional Testがあり、時折Failとなる試験項目にTD 4.1.2 Unpowered CC Voltage Testがあります。本項目は初期のType-C Functional Testには存在しなかっ